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          首頁 > 產品中心 > 手持式激光誘導擊穿光譜儀 手持式激光誘導擊穿光譜儀

          賽譜司 Z-200C+ 全元素分析儀

          Z-200 C+ 是世界上唯一能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀。 Z-200 C+ 采用激光誘導擊穿光譜技術(HH-LIBS),使用波長為1064納米,頻率為50HZ的脈沖激光,,每束脈沖
          • 概述
          • 特性
          • 應用
          • 基本原理
          • 相關資料
          • 技術參數

          Z-200 C+ 是世界上唯一能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀。 Z-200 C+ 采用激光誘導擊穿光譜技術(HH-LIBS),使用波長為1064納米,頻率為50HZ的脈沖激光,,每束脈沖激光功率為5.5毫焦耳。內置分光儀,分析波譜范圍為:190納米-620納米。使用內置氬氣。最低可檢測出0.015%的C。

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          測碳分析軟件包介紹:

          l 不銹鋼C含量檢測專業分析曲線;可檢測的元素包括:C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.

          l 鐵基合金C含量檢測專業分析曲線; 可檢測的元素包括:C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.

          l C 含量標配的檢測范圍 0-1%. 并提供擴展功能和建模軟件ProfileBuilder 可在臺式電腦或是平板電腦上運行,通過ProfileBuilder當C含量高于1%時候用戶可以自建針對高含量C的分析曲線。

          l 碳當量公式和計算(CE) , Mn:C比例及剩余元素總量

          l 碳含量校驗校準樣品和譜線漂移校正樣品.

          任何現有的Z-200型都可以升級到Z-200 C或Z-200 C+。


          Z-200 C+ 能測不銹鋼和低合金鋼(LAS)中的低C,也能測量鑄鐵中的高C。

          Z-200 C+ 能測不銹鋼和低合金鋼(LAS)中的低C,也能測量鑄鐵中的高C。 測試精度高達±0.005%,測試時間短,完成一個樣品測試需約10-20秒。 即使區分C含量差異為0.1%的碳鋼牌號,也只需10秒或更短的時間。詳細的性能參見下表。

           

           


        1. 規格

        2. 技術規格重量1.82kg帶電池尺寸21*30*12(cm)激發源5-6 mj/脈沖,50赫茲重復頻率,1064 nm激光源光譜/范圍多CCD光譜儀:190 nm - 950 nm。可用的應用程序Alloy  Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode光譜數據采集在無門或門禁操作中收集的頻譜數據,用戶可設置的門控延遲操作/氬氣凈化在氬凈化環境中操作的用戶可更換的氬氣瓶。氬罐在更換前提供大約600個測試。分析范圍全元素分析激光光柵將激光對準需檢測位置進行定向分析。光柵圖形16 x 16網格,256個位置。電子信號處理ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內存:1 GB DDR2內存,1 GB內存自動對焦計算機控制手動或自動調整激光聚焦樣本位置供電可充電鋰電池,交流電源。顯示5"彩色觸摸屏智能手機顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形數據存儲8 GB SD通訊-數據傳輸Wifi,藍牙,USB。能連接到大多數設備,包括SciAps ProfileBuilder PC軟件。樣品查看在分析過程中,通過機載攝像機錄制樣本測試的視頻或圖片校準檢查通過測試材料為316不銹鋼的內部快門,完成自動校準和波長刻度驗證漂移修正只有對精度要求比較高的測試需要運行漂移修正功能 。通過測試工廠提供的標件自動完成漂移校正合金牌號庫包含500多個合金牌號。用戶可以 運行ProfileBuilder軟件自行添加合金牌號。安全密碼保護標準配件防水外殼,2鋰離子電池,充電器,USB線,標準用于導入的ProfileBuilder軟件,編輯合金級庫(合金應用),查看,保存結果,數據顯示。腕帶,工廠啟動培訓支持,終身免費軟件升級,備用的Prolene窗戶。

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